专利详情

专利名称	反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置
申请号	CN200910091416.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101995292A	公开（授权）日	2011.03.30
申请（专利权）人	中国科学院理化技术研究所	发明（设计）人	徐光明;甄珍;刘新厚;汪琦
主分类号	G01J1/42(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/42(2006.01)I
专利有效期	反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置至反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及有机聚合物电光材料的表征技术，特别涉及反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法，及该方法所用的测量装置。本发明装置中的光学元件包括单色光纤激光器、准直器、起偏器、索累-巴比涅补偿器、检偏器和光电探测器；电学元件包括直流/交流滤波器、锁相放大器、双路低频信号发生器和计算机。本发明的方法是采用简单可调的反射光路，结合高性能电学元件，实现聚合物薄膜电光系数的快速测量。本发明克服了直接测量电光系数方法中样品制作复杂、耦合光路调节困难、不能测量损耗介质、不能测量电光系数分布的缺点，直接测量极化后的样品，光路调节简单，数据处理快速可靠，多次测量即可得到电光系数的分布。