专利详情

专利名称	集成电路全速电流测试方法
申请号	CN03125125.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1450357	公开（授权）日	2003.10.22
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	闵应骅;邝继顺;牛小燕
主分类号	G01R31/28	IPC主分类号	G01R31/28;H01L21/66
专利有效期	集成电路全速电流测试方法至集成电路全速电流测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及集成电路测试方法，其步骤包括：第一步，确定测试频率，第二步确定测试波形模式，第三步，确定可测试性测度及其阈值，第四步，测试波形生成，第五步，运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障，即所谓的冗余故障。测试效率高，适应于大批量集成电路芯片生产线的需要；不需要特别高指标的昂贵的测试仪；故障覆盖率高，适应于国防、航空航天等高可靠芯片的需求。本发明提供了对于高达几个GHz的高频数字CMOS集成电路，直接用其工作频率进行全速电流测试的方法，而测试周期可以灵活地根据测试仪的测试速度而定，可以慢到毫秒级。