专利详情

专利名称	基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法
申请号	CN201010564589.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102062639A	公开（授权）日	2011.05.18
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	王新伟;张欣;周燕;刘育梁
主分类号	G01J11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J11/00(2006.01)I
专利有效期	基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法至基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法，该方法通过对采集到的激光时域脉形数据进行频数直方图分析，得到基于频数直方图的分布特征，然后基于该分布特征选取n阶幅值作为阈值，并由该阈值在激光时域脉形中确定一平行于X轴的阈值线，该阈值线与脉形曲线相交，存在多个交点，选取位于脉形峰值点两侧且最近邻峰值点的两交点为测量点，此两测量点间对应的时间宽度便是激光的n阶脉宽。本发明适应性好，测量有效性高，与传统的n％脉宽相比可更为准确地测量激光脉宽。