
基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法
- 申请号:CN201110322085.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN102494785A
- 公开(公开)日:2012.06.13
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法 | ||
申请号 | CN201110322085.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102494785A | 公开(授权)日 | 2012.06.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 郭友明;饶长辉 |
主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G01M9/06(2006.01)I |
专利有效期 | 基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法 至基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供一种基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置及方法,该装置包括自适应光学系统、通道划分器、波前记录器和数据处理单元;其中,通道划分器对自适应光学系统的波前校正器的驱动器进行通道划分,数据处理单元根据Hadamard矩阵对划分出的通道施加电压,使平面波通过自适应光学系统后产生波前变化,由波前记录器计算并存储波前斜率,最后,数据处理单元对波前斜率矩阵进行矩阵运算,求取传递矩阵。本发明基于Hadamard矩阵多通道方法的自适应光学系统传递矩阵测量装置测量精度高、速度快,为大型自适应光学系统传递矩阵测量提供了一种有效的新方法。 |
交易流程
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专利 -
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