基于单幅图像的平面测量方法
- 申请号：CN01140335.7
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院自动化研究所
- 公开(公开)号：CN1427245
- 公开(公开)日：2003.07.02
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 基于单幅图像的平面测量方法 | ||
| 申请号 | CN01140335.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN1427245 | 公开（授权）日 | 2003.07.02 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 胡占义;吴福朝;王光辉 |
| 主分类号 | G01C11/00 | IPC主分类号 | G01C11/00 |
| 专利有效期 | 基于单幅图像的平面测量方法 至基于单幅图像的平面测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种基于单幅图像的平面测量方法，包括步骤： 在被测场景平面中放置一个模板；在被测场景中拍摄一幅或多 幅含有所述模板的图像；在图像中提取已知的模板信息；计算 出被测平面与像平面间的映射关系；根据此映射关系求出场景 中任意一点的坐标值及任意两点间的距离。本发明提供的测量 方法不需要对摄像机参数进行标定，而且具有较为简便、实用、 测量精度高、鲁棒性好等特点，使基于视觉的测量方法走向实 用。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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