单片集成的直拉直压微梁结构压阻加速度传感器及制作方法
- 申请号:CN02151296.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 公开(公开)号:CN1415968
- 公开(公开)日:2003.05.07
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 单片集成的直拉直压微梁结构压阻加速度传感器及制作方法 | ||
申请号 | CN02151296.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN1415968 | 公开(授权)日 | 2003.05.07 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明(设计)人 | 李昕欣;黄树森;王跃林 |
主分类号 | G01P15/12 | IPC主分类号 | G01P15/12 |
专利有效期 | 单片集成的直拉直压微梁结构压阻加速度传感器及制作方法 至单片集成的直拉直压微梁结构压阻加速度传感器及制作方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种单片集成直拉直压微梁结构压 阻加速度传感器及制作方法。其特征在于:二个直拉直压微梁 对称地位于弯曲主悬臂梁的两边,使得微梁只有X方向的直拉 直压变形,微梁的自由端与质量块相连;硼扩散的微梁本身作 为压阻敏感电阻;硅框架、悬臂梁、可动质量块、微梁以及过 保护机构构成的传感器为单片硅形成的整体式结构;悬臂梁、 微梁和过载保护结构的制作是同时完成;其中直拉微梁在SOI 材料的上层硅上制作,弯曲悬臂梁的质量块等在下层硅衬底上 制作,并有中间的氧化层形成电阻与结构间的电绝缘。本发明适合各种量程(1~1.6×105g),具有高灵度、高带宽的特点。 |
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