专利详情

专利名称	折反射式凸面光栅成像光学系统
申请号	CN02136154.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1391090	公开（授权）日	2003.01.15
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	沈蓓军;刘宝丽;刘银年;王建宇;薛永祺
主分类号	G01J3/18	IPC主分类号	G01J3/18;G01J3/28
专利有效期	折反射式凸面光栅成像光学系统至折反射式凸面光栅成像光学系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于机载或星载对地观察超光谱成像仪的折反射式凸面光栅成像光学系统，该系统通过在依次由凸球面光栅和凹球面反射镜构成的同轴形式的离轴三反镜成像光学系统前增加折射透镜，使系统的象差得到进一步校正，从而保证系统在保持同轴形式的情况下可以获得与离轴式成像光谱仪相当的像质。该系统结构简单，元件加工及系统装调较离轴系统容易。它主要应用于机载或星载对地观察超光谱成像仪器中观察地物的光谱特性，也可用于医学、矿产等领域对物体的形状及光谱特性进行分析。