电路时延测试方法
- 申请号：CN00136116.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院计算技术研究所
- 公开(公开)号：CN1361428
- 公开(公开)日：2002.07.31
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 电路时延测试方法 | ||
| 申请号 | CN00136116.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN1361428 | 公开（授权）日 | 2002.07.31 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李华伟 |
| 主分类号 | G01R31/3181 | IPC主分类号 | G01R31/3181 |
| 专利有效期 | 电路时延测试方法 至电路时延测试方法 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 一种新的可变双观测点的时延测试方法,建立了 可变双观测点的时延测试模型。被测电路的完全时延测试集是 由通路集的一个最大线性无关组中每条通路的波形敏化测试 图形构成的。对每一个测试,按照可变双观测点的时延测试模型 工作的测试仪需要在电路的原始输出采样两次以确定被测通 路的传输延 时是否在预期的正常范围内,采样的时间对不同的测试是可变 的。用该方法实现一种精确测量的时延测试自动生成系统。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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