作为单分子SERS检测基底的表面可控修饰银颗粒的硅纳米线的制备方法
- 申请号:CN200910241972.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院理化技术研究所
- 公开(公开)号:CN102101639A
- 公开(公开)日:2011.06.22
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 作为单分子SERS检测基底的表面可控修饰银颗粒的硅纳米线的制备方法 | ||
申请号 | CN200910241972.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102101639A | 公开(授权)日 | 2011.06.22 |
申请(专利权)人 | 中国科学院理化技术研究所 | 发明(设计)人 | 张晓宏;韩雪梅;王辉;欧雪梅;李述汤 |
主分类号 | B82B3/00(2006.01)I | IPC主分类号 | B82B3/00(2006.01)I;B82B1/00(2006.01)I;G01N21/65(2006.01)I |
专利有效期 | 作为单分子SERS检测基底的表面可控修饰银颗粒的硅纳米线的制备方法 至作为单分子SERS检测基底的表面可控修饰银颗粒的硅纳米线的制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种在硅纳米线表面负载银颗粒的方法。该方法包括下述步骤:将除去表面氧化层的硅纳米线分散在十六烷基三甲基溴化铵的水溶液中,得到硅纳米线的分散液;在搅拌条件下,向所述硅纳米线的分散液中加入硝酸银溶液,并在室温下进行反应;反应结束后,将反应液离心,收集沉淀,即得到表面负载银颗粒的硅纳米线。本发明的方法简单快捷,设备低廉,同时可实现大量制备。该方法通过改变分散液和硝酸银溶液的浓度即可做到对沉积在硅线表面的银颗粒的形貌分散密集度进行调控,从而满足不同的需要。 |
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