专利详情

专利名称	一种测量哈特曼波前传感器子孔径中倾斜像差的方法
申请号	CN201310030430.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103105235A	公开（授权）日	2013.05.15
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	王帅;杨平;许冰;刘文劲;雷翔;晏虎;董理治;高源;程生毅
主分类号	G01J9/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J9/00(2006.01)I
专利有效期	一种测量哈特曼波前传感器子孔径中倾斜像差的方法至一种测量哈特曼波前传感器子孔径中倾斜像差的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种测量哈特曼波前传感器子孔径中倾斜像差的方法，用相位调制器分别对子孔径范围内的子光波进行第1阶、第2阶Walsh函数形式二元相位调制，每次调制后的子光波被微透镜聚焦进入对应的单模光纤选模滤波，单敏探测器在光纤另一端接收无调制、第1阶调制和第2阶调制三种状态最终出射的三个光强数据，根据光强数据求得子波前中第1阶和第2阶Walsh函数系数，利用该两阶Walsh函数与倾斜像差的对应比例关系，得到子孔径内子波前中对应的两个方向倾斜像差系数；本发明充分减少每个子孔径对应的探测单元数，大大减小探测信息量，实现在单个子孔径中，用单敏光电探测器代替光电探测器阵列，提高探测速度，降低了器件成本，同时波前探测的精度不受探测单元数减少的影响。