一种基因芯片的膜转印检测法
- 申请号：CN01113297.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海冶金研究所
- 公开(公开)号：CN1330155
- 公开(公开)日：2002.01.09
- 法律状态：公开
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专利详情
| 专利名称 | 一种基因芯片的膜转印检测法 | ||
| 申请号 | CN01113297.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN1330155 | 公开（授权）日 | 2002.01.09 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海冶金研究所 | 发明（设计）人 | 赵建龙;景奉香;孙悦;张为;毛红菊;赵辉 |
| 主分类号 | C12Q1/68 | IPC主分类号 | C12Q1/68 |
| 专利有效期 | 一种基因芯片的膜转印检测法 至一种基因芯片的膜转印检测法 | 法律状态 | 公开 |
| 说明书摘要 | 一种基因芯片的膜转印检测法,在待检测样品的 PCR扩增过程中,加入地高辛或生物素标记,然后将PCR产物与 芯片进行杂交,杂交以后用抗体与地高辛或生物素标记结合,再 用浸润了显色液的尼龙膜或硝酸纤维膜将杂交结果转印到膜 上,使杂交信号强度大大提高,以提高检测灵敏度,可用一般的光 学扫描仪检测杂交结果。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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