一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法
- 申请号：CN201110370372.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号：CN102425988A
- 公开(公开)日：2012.04.25
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法 | ||
| 申请号 | CN201110370372.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102425988A | 公开（授权）日 | 2012.04.25 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 赵文川;吴永前;吴高峰;侯溪;万勇建;范斌 |
| 主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B9/02(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法 至一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法。相位测量误差具有正弦性周期性分布，而三角函数每相隔π时，其幅值正负相反，即误差分布反相。这样，可对基础算法进行扩展，将多组测量中的反正切公式中分子、分母分别进行叠加平均，利用误差相位分布反相相互抵消来减小误差。在此思想下，可递推推导出多种适合不同情况的平均补偿算法。该算法尤其是对相移误差不敏感，能显著地提高相位测量精度。 | ||
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